芯片描述
芯片特點(diǎn)
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2.4V~3.6V 工作電壓范圍 -40~85℃ 工作溫度范圍 |
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內(nèi)部高精度RC、低功耗 RC，支持外部晶振，不同工作模式選擇 運(yùn)行模式1：<2mA@CRY 8MHz @CPU 8MHz 運(yùn)行模式2：<550μA@RC 4MHz @CPU 4MHz 運(yùn)行模式3：<300μA@RC 4MHz @CPU 2MHz 休眠模式：<1.2μA |
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| ○ | 6k Words OTP Type 程序存儲(chǔ)器，256 Bytes 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器 | ○ | 掉電檢測(cè)及 WDT，可防止 CPU 進(jìn)入死循環(huán) | |
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高解析度ΣΔADC 模數(shù)轉(zhuǎn)換器： 零輸入電壓，零輸出電壓；高輸入阻抗；內(nèi)置絕對(duì)溫度檢測(cè)器 |
○ | 1.2V 內(nèi)部模擬電路共地電壓源 | |
| ○ | LVD 低電壓檢測(cè)功能，14 段檢測(cè)電壓設(shè)置與外部輸入電壓檢測(cè)功能 | ○ |
可編程多功能網(wǎng)絡(luò) 電壓/電阻/電容換擋測(cè)量，定電壓/定電流輸出，元件可自校正，元件正負(fù)極性判別 |
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4×15 LCD 液晶驅(qū)動(dòng)器 Static、1/2、1/3、1/4 Duty 及 1/3 Bias 內(nèi)置 Charge Pump 穩(wěn)壓線(xiàn)路，可提供 4 種 LCD 偏壓 |
○ | 8-bit Timer A：8-bit Timer C 具有 PWM/PFM 波形產(chǎn)生功能 | |
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多功能比較器 具有遲滯與 Latch 功能，可降低 glitch；可程序化設(shè)定比較電壓；可作為短路測(cè)試，頻率測(cè)量或電容充放電頻率測(cè)量 |
○ | 模擬電壓源 VDDA 可選擇 4 種輸出電壓，具有 10mA 穩(wěn)壓電壓源輸出能力 | |
| ○ | UART 模組 | ○ | 支持 6 級(jí)堆棧 |
芯片框圖
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